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FormFactor
FormFactor
Summit 200系列是一款专为8英寸Wafer的研发、生产、可靠性评估打造的一款先进、快速、高精度的半自动/自动测量探针台。可用于超低噪声、直流、mmW和THz领域内的全温度范围测量。
·精确测量
PureLine™专利技术、AttoGuard®专利技术、和下一代MicroChamber®技术为IV/CV、低噪声和1/f噪声的DC精确测量提供了有力支持，同时对交流和频谱噪声、光均有良好的屏蔽性能。集成射频工具和校准软件有力保障RF/mmW测量和校准准确型和可重复性。
·效率高
从装载晶圆到获得准确测量数据测量周期，自动化Wafer处理能力提升了5倍的效率。对标准和难于测量的器件诸如薄wafer、小尺寸焊盘和大功率加速了第一手数据的获取时间。
带着增强型光学可视化性能的eVue数字图像系统能快速搭建、实现die内和的导航和定位
·灵活和量身定制的方案
射频/微波器件表征、1/f噪声、晶圆级可靠性分析
WLR、器件失效分析FA和调试
Velox软件和分析测量软件无缝集成
使用探针定位器和批量探卡
温度范围为-60℃---+300℃
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